设备归属：理化平台
设备管理员联系方式：张娟，juanzhang@eitech.edu.cn
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设备介绍：
X射线衍射仪（XRD）是一种利用X射线衍射原理测定物质结构的仪器，广泛应用于晶体结构分析、物相定性、定量分析、晶粒大小分析、结晶度分析、残余应力分析和择优取向分析等。该设备是材料研究过程中的必备测试手段，适用于单晶、多晶、非晶和纳米等各类材料，为研究过程中的材料质量控制、制备工艺优化、材料性能提升提供不可或缺的微观结构信息。
主要技术参数：
Ø X射线发生器
Ø 电压：20-45kV，电流：10-200mA，最大输出功率：9kW
Ø 高精度测角仪
Ø 半径：300mm，转动范围：-3～160度，最小步进：0.0001度
Ø X-SPA二维面探测器
Ø 工作模式：0D、1D、2D，能量分辨率：340eV（Cu）
Ø 高精度薄膜样品台
Ø χ轴：-5～92度（最小幅度：0.001度）；
Ø φ轴：±360度（最小幅度：0.002度）
Ø 原位高温附件
Ø 测试气氛：真空、大气、惰性气体（氦气）；
Ø 温度范围：室温～1500°C
Ø 原位锂离子电池循环充放电附件
Ø 测试角度：5～90度，温度范围：-30~100摄氏度
