扫描电子显微镜SEM

发布者:系统管理员发布时间:2026-01-29浏览次数:10

设备归属:成像中心

设备管理员联系方式:韩韶波,shaobohan@eitech.edu.cn


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设备介绍:

扫描电子显微镜能够在纳米尺度获得物质表面的微观结构。是电子束系统、真空系统、成像系统、分析系统的有机结合体。原理是控制电子束在样本表面逐点扫描,从而激发出样品表层的二次电子、背散射电子、X射线等信号,再利用合适的探测器和分析方法对信号进行接收和处理,从而获得扫描区域的形貌、成分和结构信息。

该设型号为Hitachi SU8600,具有高质量图像、大束流分析及长时间稳定运行的冷场成像技术,同时具有高通量、自动数据获取能力。先进的自动化功能:自动电子光学调节、自动化数据采集;兼具超高分辨率及分析扩展能力:搭载新型高亮冷场发射电子源、基于ExB的高效率信号采集系统:强大的显示及交互特性:6通道同时显示与保存、单次扫描最高支持40960x30720 的超高像素。

主要技术参数:

Ø  电子枪:高亮度冷场发射,色差<0.2eV;

Ø  加速电压:0.01-30kV (10V/step, 含减速)

Ø  分辨率SE: 0.6nm (@15kV,工作距离≥4mm);0.7nm@1kV (@1kV,工作距离≥1.5mm)

Ø  探测器:UDLDBSEEDSEBSD