原子力显微镜AFM

发布者:系统管理员发布时间:2026-01-29浏览次数:11

设备归属:成像中心

设备管理员联系方式:韩韶波,shaobohan@eitech.edu.cn


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设备介绍:

原子力显微镜是一种用来研究材料表面结构的分析仪器。广泛应用于材料科学、二维材料、物理学、化学以及电子信息器件以及能源等领域的研究。能够微观尺度表征样品表面形貌,也可以通过更换具有金属性或者磁性涂层的探针探测样品表面的电、磁学性质。还可以对样品表面施加电压、电流,改变材料表面的局域物理性质,进而实现对功能性的微纳调控。

该设备型号为牛津Cypher ES。工作模式:轻敲模式,接触模式,相位成像模式,横向力模式,磁场力显微镜,压电力显微镜,双频共振追踪压电力显微镜,矢量压电力显微镜,静电力显微镜,扫描开尔文显微镜,动态和静态力曲线,力阵列测量,纳米刻蚀,纳米操纵,高次谐波成像模式。

主要技术参数:

Ø  闭环噪音 XY<60 pm, 高度噪音 Z<15 pm

Ø  快速扫描:可以在几秒内快速成像;

Ø  环境控制系统: 探针夹持器与样品腔即可组成全密闭式样品环境控制器,无需外接组件;

Ø  内置压力传感器,实时监测环境控制腔内的压强;

Ø  直接通过AFM操作软件精确控制密闭样品腔内的温控模块实现0℃250℃的变温。控温精度≤0.2℃;环境控制腔内留有气体/液体通路,能够在扫描的同时实时控制腔内的气体或者液体环境。